11
TÍTULO: Spatially-resolved photocapacitance measurements to study defects in a-Si : H based p-i-n particle detectors  Full Text
AUTORES: Casteleiro, C; Schwarz, R ; Mardolcar, U; Macarico, A; Martins, J; Vieira, M ; Wuensch, F; Kunst, M; Morgado, E; Stallinga, P ; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 516, NÚMERO: 15
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12
TÍTULO: Study of trap states in zinc oxide (ZnO) thin films for electronic applications  Full Text
AUTORES: Casteleiro, C; Gomes, HL ; Stallinga, P ; Bentes, L; Ayouchi, R ; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 22nd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 354, NÚMERO: 19-25
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TÍTULO: Study of trap states in zinc oxide (ZnO) thin films for electronic applications  Full Text
AUTORES: Casteleiro, C; Gomes, HL ; Stallinga, P ; Bentes, L; Ayouchi, R ; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Non-Crystalline Solids, VOLUME: 354, NÚMERO: 19-25
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14
TÍTULO: Switching in polymeric resistance random-access memories (RRAMS)  Full Text
AUTORES: Gomes, HL ; Benvenho, ARV; de Leeuw, DM; Colle, M; Stallinga, P ; Verbakel, F; Taylor, DM;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: ORGANIC ELECTRONICS, VOLUME: 9, NÚMERO: 1
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16
TÍTULO: Metal contacts in thin-film transistors  Full Text
AUTORES: Stallinga, P ; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: ORGANIC ELECTRONICS, VOLUME: 8, NÚMERO: 4
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17
TÍTULO: Nanocomposite field effect transistors based on zinc oxide/polymer blends  Full Text
AUTORES: Zong Xiang Xu; Roy, VAL; Peter Stallinga ; Michele Muccini; Stefano Toffanin; Hei Feng Xiang; Chi Ming Che;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 90, NÚMERO: 22
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18
TÍTULO: Electrical instabilities in organic semiconductors caused by trapped supercooled water  Full Text
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; Colle, M; de Leeuw, DM; Biscarini, F;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 88, NÚMERO: 8
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19
TÍTULO: Light-emitting thin-film field-effect transistors
AUTORES: Peter Stallinga ; Henrique L Gomes ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: OPTICA APPLICATA, VOLUME: 36, NÚMERO: 2-3
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20
TÍTULO: Modeling electrical characteristics of thin-film field-effect transistors I. Trap-free materials  Full Text
AUTORES: Stallinga, P ; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: SYNTHETIC METALS, VOLUME: 156, NÚMERO: 21-24
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