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Cacilda Maria Lima de Moura
AuthID:
R-000-2W8
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Document Source:
All
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Todos os Tipos de Documentos
Article (27)
Proceedings Paper (1)
Year Start - End:
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
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2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 28
21
TÃTULO:
Structural evolution in ZrNxOy thin films as a function of temperature
Full Text
AUTORES:
Cunha, L
;
Vaz, F
;
Moura, C
;
Rebouta, L
;
Carvalho, P
;
Alves, E
;
Cavaleiro, A
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2006
,
FONTE:
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
200,
NÚMERO:
9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
39
NO MEU:
ORCID
22
TÃTULO:
Structural, electrical, optical, and mechanical characterizations of decorative ZrOxNy thin films
Full Text
AUTORES:
Carvalho, P;
Vaz, F
;
Rebouta, L
;
Cunha, L
;
Tavares, CJ
;
Moura, C
;
Alves, E
;
Cavaleiro, A
; Goudeau, P; Le Bourhis, E; Riviere, JP; Pierson, JF; Banakh, O;
PUBLICAÇÃO:
2005
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
98,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
23
TÃTULO:
Effect of substrate bias voltage on amorphous Si-C-N films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Cunha, L
;
Moura, C
;
Leme, J
; Andres, G; Pischow, K;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
447
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
24
TÃTULO:
Property change in ZrNxOy thin films: effect of the oxygen fraction and bias voltage
Full Text
AUTORES:
Vaz, F
;
Carvalho, P
;
Cunha, L
;
Rebouta, L
;
Moura, C
;
Alves, E
;
Ramos, AR
;
Cavaleiro, A
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
469,
NÚMERO:
SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
52
NO MEU:
ORCID
25
TÃTULO:
Raman analysis of Si-C-N films grown by reactive magnetron sputtering
Full Text
AUTORES:
Liang, EJ; Zhang, JW; Leme, J;
Moura, C
;
Cunha, L
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
469,
NÚMERO:
SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
26
TÃTULO:
Effect of nitrogen gas flow on amorphous Si-C-N films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Moura, C
;
Cunha, L
; Orfao, H; Pischow, K; De Rijk, J; Rybinski, M; Mrzyk, D;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
8th International Conference on Plasma Surface Engineering
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
174
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
27
TÃTULO:
Characterisation of chromium nitride films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Barata, A;
Cunha, L
;
Moura, C
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
28th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
398
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
28
TÃTULO:
Density of vibrational states in highly disordered systems through Raman scattering and atomic-scale simulation
Full Text
AUTORES:
Carles, R; Zwick, A;
Moura, C
; Djafari Rouhani, M;
PUBLICAÇÃO:
1998
,
FONTE:
6th International Workshop on Disordered Systems
in
PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES,
VOLUME:
77,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
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