Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Eduardo Jorge da Costa Alves
AuthID:
R-000-4EK
Publicações
Confirmadas
Para Validar
Document Source:
All
Document Type:
Todos os Tipos de Documentos
Article (512)
Proceedings Paper (76)
Correction (4)
Review (2)
Editorial Material (2)
Erratum (1)
Year Start - End:
1984
1985
1986
1987
1988
1989
1990
1991
1992
1993
1994
1995
1996
1997
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2017
2018
2019
2020
2021
2022
2023
2024
-
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
1995
1994
1993
1992
1991
1990
1989
1988
1987
1986
1985
1984
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 597
131
TÃTULO:
Effect of annealing on AlN/GaN quantum dot heterostructures: Advanced ion beam characterization and X-ray study of low-dimensional structures
Full Text
AUTORES:
Magalhaes, S
;
Lorenz, K
;
Franco, N
;
Barradas, NP
;
Alves, E
;
Monteiro, T
; Amstatt, B; Fellmann, V; Daudin, B;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices
in
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
VOLUME:
42,
NÚMERO:
10-11
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ResearcherID
132
TÃTULO:
Effect of Eu2O3 doping on Ta2O5 crystal growth by the laser-heated pedestal technique
Full Text
AUTORES:
Saggioro, BZ; Andreeta, MRB;
Hernandes, AC
; Macatrao, M;
Peres, M
;
Costa, FM
;
Monteiro, T
;
Franco, N
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH,
VOLUME:
313,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
133
TÃTULO:
Effect of grain size and hydrogen passivation on the electrical properties of nanocrystalline silicon films
AUTORES:
Cerqueira, MF
;
Semikina, TV
;
Baidus, NV
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
INTERNATIONAL JOURNAL OF MATERIALS & PRODUCT TECHNOLOGY,
VOLUME:
39,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
134
TÃTULO:
Effects of Mg-ion implantation in alpha-Al2O3 and alpha-Al2O3:Mg crystals: Electrical conductivity and electronic structure changes
Full Text
AUTORES:
Tardio, M; Colera, I; Ramirez, R;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
15th International Conference of the Radiation Effects in Insulators
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
268,
NÚMERO:
19
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ResearcherID
135
TÃTULO:
Electrical and Raman Scattering Studies of ZnO:P and ZnO:Sb Thin Films
AUTORES:
de Campos, JA;
Viseu, T
;
Rolo, AG
;
Barradas, NP
;
Alves, E
;
de Lacerda Aroso, T
;
Cerqueira, MF
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
2nd International Conference on Advanced Nano Materials
in
JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY,
VOLUME:
10,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
136
TÃTULO:
Enhancement of the photocatalytic nature of nitrogen-doped PVD-grown titanium dioxide thin films (vol 106, 113535, 2009)
Full Text
AUTORES:
Tavares, CJ
;
Marques, SM
;
Viseu, T
;
Teixeira, V
;
Carneiro, JO
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Munnik, F; Girardeau, T; P Riviere;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
107,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
137
TÃTULO:
Erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by RF sputtering - annealing effect on the Er emission
AUTORES:
Cerqueira, MF
;
Monteiro, T
;
Soares, MJ
; Kozanecki, A;
Alpuim, P
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors (ICANS23)
in
PHYSICA STATUS SOLIDI C - CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 7 NO 3-4,
VOLUME:
7,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
138
TÃTULO:
Erosion and re-deposition processes in JET tiles studied with ion beams
Full Text
AUTORES:
Alves, LC
;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Mateus, R
;
Carvalho, P
; Coad, JP; Widdowson, AM; Likonen, J; Koivuranta, S;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
19th International Conference on Ion Beam Analysis
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
268,
NÚMERO:
11-12
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
139
TÃTULO:
Functional and optical properties of Au:TiO2 nanocomposite films: The influence of thermal annealing
Full Text
AUTORES:
Torrell, M
;
Cunha, L
;
Cavaleiro, A
;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
256,
NÚMERO:
22
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
28
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
140
TÃTULO:
Functionalizing self-assembled GaN quantum dot superlattices by Eu-implantation
Full Text
AUTORES:
Magalhaes, S
;
Peres, M
; Fellmann, V; Daudin, B;
Neves, AJ
;
Alves, E
;
Monteiro, T
;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2010
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
108,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ResearcherID
Adicionar à lista
Marked
Marcar Todas
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
CSV
PDF
Export Preview
Print
×
Publication Print Settings
HTML
PDF
Print Preview
Página 14 de 60. Total de resultados: 597.
<<
<
10
11
12
13
14
15
16
17
18
>
>>
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service