Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

Publicações Confirmadas: 65



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TÍTULO: Functional-oriented BIST of sequential circuits aiming at dynamic faults coverage
AUTORES: Guerreiro, F; Jorge Semião ; Pierce, A; Santos, MB; Teixeira, IM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 9th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, VOLUME: 2006
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TÍTULO: Improving the tolerance of pipeline based circuits to power supply or temperature variations
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems in DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
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TÍTULO: Test resource partitioning: a design & test issue
AUTORES: Teixeira, JP; Teixeira, IM; Pereira, CE; Dias, OP; Jorge Semião ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2001) in DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE, CONFERENCE AND EXHIBITION 2001, PROCEEDINGS
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TÍTULO: From system level to defect-oriented test: A case study
AUTORES: Dias, OP; Jorge Semião ; Santos, MB; Teixeira, IM; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 1999 European Test Workshop, ETW 1999 in Proceedings - European Test Workshop 1999, ETW 1999
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NO MEU: ORCID
65
TÍTULO: Hardware/software specification, design and test using a system level approach
AUTORES: DIas, OP; Jorge Semião ; Pereira, CE; Teixeira, IM; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 12th Brazilian Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 1999 in Proceedings - 12th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 1999
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