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Hugo Manuel Brito Águas
AuthID:
R-000-61B
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Document Source:
All
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Todos os Tipos de Documentos
Article (100)
Proceedings Paper (30)
Year Start - End:
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
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2010
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2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 130
121
TÃTULO:
Role of ion bombardment on the properties of a-Si : H films
AUTORES:
Aguas, H
;
Martins, R
;
Fortunato, E
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
Vacuum,
VOLUME:
60,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
122
TÃTULO:
Silicon films produced by PECVD under powder formation conditions
AUTORES:
Martins, R
;
Aguas, H
;
Silva, V
;
Ferreira, I
; Cabrita, A;
Fortunato, E
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
5th European Workshop on Dusty and Collidal Plasmas
in
PLASMA PROCESSING AND DUSTY PARTICLES,
VOLUME:
382
INDEXADO EM:
WOS
NO MEU:
ResearcherID
123
TÃTULO:
Study of the effect of different plasma-enhanced chemical vapour deposition reactor configurations on the properties of hydrogenated amorphous silicon thin films
AUTORES:
Aguas, H
;
Silva, V
;
Ferreira, I
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
International Workshop on Semiconducting and Superconducting Materials
in
Philosophical Magazine B: Physics of Condensed Matter; Statistical Mechanics, Electronic, Optical and Magnetic Properties,
VOLUME:
80,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
124
TÃTULO:
Study of the effect of different plasma-enhanced chemical vapour deposition reactor configurations on the properties of hydrogenated amorphous silicon thin films
AUTORES:
Aguas, H
; Silva, V;
Ferreira, I
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
International Workshop on Semiconducting and Superconducting Materials
in
PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES,
VOLUME:
80,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
WOS
125
TÃTULO:
Towards the improvement of the stability of a-Si : H pin devices
Full Text
AUTORES:
Martins, R
;
Aguas, H
;
Ferreira, I
;
Fortunato, E
; Guimaraes, L;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
SOLAR ENERGY,
VOLUME:
69,
NÚMERO:
1-6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
126
TÃTULO:
Two step process for the growth of a thin layer of silicon dioxide for tunnelling effect applications
AUTORES:
Aguas, H
; Cabrita, A; Tonello, P; Nunes, P;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
Symposium on Recent Developments in Oxide and Metal Epitaxy-Theory and Experiment
in
RECENT DEVELOPMENTS IN OXIDE AND METAL EPITAXY-THEORY AND EXPERIMENT,
VOLUME:
619
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
127
TÃTULO:
Characteristics of a linear array of a-Si : H thin film position sensitive detector
Full Text
AUTORES:
Fortunato, E
; Soares, F; Teodoro, P; Guimaraes, N;
Mendes, M
;
Aguas, H
;
Silva, V
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
337,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
128
TÃTULO:
Influence of the H2 dilution and filament temperature on the properties of P doped silicon carbide thin films produced by hot-wire technique
AUTORES:
Ferreira, I
;
Aguas, H
; Mendes, L;
Fernandes, F
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
Proceedings of the 1998 MRS Spring Meeting
in
Materials Research Society Symposium - Proceedings,
VOLUME:
507
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
129
TÃTULO:
Performances of nano/amorphous silicon films produced by hot wire plasma assisted technique
AUTORES:
Ferreira, I
;
Aguas, H
; Mendes, L;
Fernandes, F
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
Proceedings of the 1998 MRS Spring Meeting
in
Materials Research Society Symposium - Proceedings,
VOLUME:
507
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
130
TÃTULO:
Role of the hot wire filament temperature on the structure and morphology of the nanocrystalline silicon p-doped films
Full Text
AUTORES:
Ferreira, I
;
Aguas, H
; Mendes, L;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
1999
,
FONTE:
14th International Vacuum Congress/10th International Conference on Solid Surfaces/5th International Conference on Nanometre-Scale Science and Technology/10th International Conference on Quantitative Surface Analysis
in
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
144-45
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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