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Luís António Carvalho Gachineiro da Cunha
AuthID:
R-000-9BG
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Article (50)
Proceedings Paper (4)
Review (1)
Year Start - End:
1998
1999
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2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 55
41
TÃTULO:
Corrosion behaviour of single layered ZrN xO y thin films in artificial sweat solutions
AUTORES:
Ariza, E
;
Rocha, LA
;
Ferreira, SC
;
Vaz, F
;
Cunha, L
;
Carvalho, P
;
Rebouta, L
;
Alves, E
;
Ph Goudeau
; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
European Corrosion Conference: Long Term Prediction and Modelling of Corrosion, EUROCORR 2004
in
EUROCORR 2004 - European Corrosion Conference: Long Term Prediction and Modelling of Corrosion
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
42
TÃTULO:
Corrosion resistance of ZrNxOy thin films obtained by rf reactive magnetron sputtering
Full Text
AUTORES:
Ariza, E
;
Rocha, LA
;
Vaz, F
;
Cunha, L
;
Ferreira, SC
;
Carvalho, P
;
Rebouta, L
;
Alves, E
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
469,
NÚMERO:
SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
43
TÃTULO:
Effect of substrate bias voltage on amorphous Si-C-N films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Cunha, L
;
Moura, C
;
Leme, J
; Andres, G; Pischow, K;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
447
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
44
TÃTULO:
Property change in ZrNxOy thin films: effect of the oxygen fraction and bias voltage
Full Text
AUTORES:
Vaz, F
;
Carvalho, P
;
Cunha, L
;
Rebouta, L
;
Moura, C
;
Alves, E
;
Ramos, AR
;
Cavaleiro, A
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
469,
NÚMERO:
SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
52
NO MEU:
ORCID
45
TÃTULO:
Raman analysis of Si-C-N films grown by reactive magnetron sputtering
Full Text
AUTORES:
Liang, EJ; Zhang, JW; Leme, J;
Moura, C
;
Cunha, L
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
469,
NÚMERO:
SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
46
TÃTULO:
Effect of nitrogen gas flow on amorphous Si-C-N films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Moura, C
;
Cunha, L
; Orfao, H; Pischow, K; De Rijk, J; Rybinski, M; Mrzyk, D;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
8th International Conference on Plasma Surface Engineering
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
174
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
47
TÃTULO:
Properties of PVD coatings on a brass substrate
AUTORES:
Dobrzanski, LA
;
Lukaszkowicz, K
;
Cunha, L
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
2nd International Conference on Advanced Materials Processing
in
ADVANCED MATERIALS PROCESSING II,
VOLUME:
437-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
48
TÃTULO:
Performance of chromium nitride and titanium nitride coatings during plastic injection moulding
Full Text
AUTORES:
Cunha, L
;
Andritschky, M
; Pischow, K; Wang, Z;
Zarychta, A
;
Miranda, AS
;
Cunha, AM
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
153,
NÚMERO:
2-3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
49
TÃTULO:
Physical and morphological characterization of reactively magnetron sputtered TiN films
Full Text
AUTORES:
Vaz, F
; Machado, P;
Rebouta, L
;
Mendes, JA
;
Lanceros Mendez, S
;
Cunha, L
;
Nascimento, SMC
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
Alves, E
; Sidor, A;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
29th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
420
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
50
TÃTULO:
Characterisation of chromium nitride films produced by PVD techniques
Full Text
AUTORES:
Barata, A;
Cunha, L
;
Moura, C
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
28th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
398
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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