1
TÍTULO: Characterisation of III-nitride materials by synchrotron X-ray microdiffraction reciprocal space mapping  Full Text
AUTORES: Vyacheslav Kachkanov; Igor Dolbnya; Kevin O'Donnell; Katharina Lorenz ; Sergio Pereira ; Ian Watson; Thomas Sadler; Haoning N Li; Vitaly Zubialevich; Peter Parbrook;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 4th International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN) in PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 10, NO 3, VOLUME: 10, NÚMERO: 3
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2
TÍTULO: Characterization of InGaN and InAlN epilayers by microdiffraction X-ray reciprocal space mapping
AUTORES: Kachkanov, V; Dolbnya, IP; O'Donnell, KP; Lorenz, K ; Pereira, S ; Martin, RW; Edwards, PR; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2011 MRS Fall Meeting in Materials Research Society Symposium Proceedings, VOLUME: 1396
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3
TÍTULO: InGaN epilayer characterization by microfocused x-ray reciprocal space mapping  Full Text
AUTORES: Kachkanov, V; Dolbnya, IP; O'Donnell, KP; Martin, RW; Edwards, PR; Pereira, S ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 99, NÚMERO: 18
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4
TÍTULO: Zeeman splittings of the 5D 0- 7F 2 transitions of Eu 3+ ions implanted into GaN
AUTORES: Kachkanov, V; O'Donnell, KP; Rice, C; Wolverson, D; Martin, RW; Lorenz, K; Alves, E ; Bockowski, M;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 2010 MRS Fall Meeting in Materials Research Society Symposium Proceedings, VOLUME: 1290
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5
TÍTULO: Localization of excitation in InGaN epilayers  Full Text
AUTORES: Kachkanov, V; O'Donnell, KP; Pereira, S ; Martin, RW;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: PHILOSOPHICAL MAGAZINE, VOLUME: 87, NÚMERO: 13
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