Eduardo Jorge da Costa Alves
AuthID: R-000-4EK
201
TÃTULO: Spectroscopic analysis of the NIR emission in Tm implanted AlxGa1-xN layers Full Text
AUTORES: Rodrigues, J; Fialho, M; Esteves, TC; Santos, NF; Ben Sedrine, N; Rino, L; Neves, AJ; Lorenz, K; Alves, E; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 120, NÚMERO: 8
AUTORES: Rodrigues, J; Fialho, M; Esteves, TC; Santos, NF; Ben Sedrine, N; Rino, L; Neves, AJ; Lorenz, K; Alves, E; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 120, NÚMERO: 8
202
TÃTULO: Anisotropy of electrical conductivity in dc due to intrinsic defect formation in α-Al<inf>2</inf>O<inf>3</inf> single crystal implanted with Mg ions
AUTORES: Tardío M.; Egaña A.; Ramírez R.; Muñoz-Santiuste J.E.; Alves E.;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 379
AUTORES: Tardío M.; Egaña A.; Ramírez R.; Muñoz-Santiuste J.E.; Alves E.;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 379
203
TÃTULO: Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al 0.15 Ga 0.85 N Full Text
AUTORES: Magalhães, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 49, NÚMERO: 13
AUTORES: Magalhães, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 49, NÚMERO: 13
204
TÃTULO: Impact of implantation geometry and fluence on structural properties of AlxGa1-xN implanted with thulium Full Text
AUTORES: Fialho, M; Magalhaes, S; Chauvat, MP; Ruterana, P; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 120, NÚMERO: 16
AUTORES: Fialho, M; Magalhaes, S; Chauvat, MP; Ruterana, P; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 120, NÚMERO: 16
205
TÃTULO: High Orbital Angular Momentum Harmonic Generation
AUTORES: Vieira, J; Trines, RMGM; Alves, EP; Fonseca, RA; Mendonca, JT; Bingham, R; Norreys, P; Silva, LO;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: PHYSICAL REVIEW LETTERS, VOLUME: 117, NÚMERO: 26
AUTORES: Vieira, J; Trines, RMGM; Alves, EP; Fonseca, RA; Mendonca, JT; Bingham, R; Norreys, P; Silva, LO;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: PHYSICAL REVIEW LETTERS, VOLUME: 117, NÚMERO: 26
206
TÃTULO: The role and application of ion beam analysis for studies of plasma-facing components in controlled fusion devices
AUTORES: Rubel, M; Petersson, P; Alves, E; Brezinsek, S; Coad, JP; Heinola, K; Mayer, M; Widdowson, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 371
AUTORES: Rubel, M; Petersson, P; Alves, E; Brezinsek, S; Coad, JP; Heinola, K; Mayer, M; Widdowson, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 371
INDEXADO EM: 
Scopus
Scopus NO MEU: 
ORCID
ORCID207
TÃTULO: Electrical insulation properties of RF-sputtered LiPON layers towards electrochemical stability of lithium batteries
AUTORES: Vieira, EMF; Ribeiro, JF; Silva, MM; Barradas, NP; Alves, E; Alves, A; Correia, MR; Goncalves, LM;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 49, NÚMERO: 48
AUTORES: Vieira, EMF; Ribeiro, JF; Silva, MM; Barradas, NP; Alves, E; Alves, A; Correia, MR; Goncalves, LM;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 49, NÚMERO: 48
208
TÃTULO: Correction to "Spectroscopic Analysis of Eu 3+ Implanted and Annealed GaN Layers and Nanowires"
AUTORES: Rodrigues, J; Leitão, MF; Carreira, JFC; Ben Sedrine, N; Santos, NF; Felizardo, M ; Auzelle, T; Daudin, B; Alves, E; Neves, AJ; Correia, MR; Costa, FM; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physical Chemistry C, VOLUME: 120, NÚMERO: 12
AUTORES: Rodrigues, J; Leitão, MF; Carreira, JFC; Ben Sedrine, N; Santos, NF; Felizardo, M ; Auzelle, T; Daudin, B; Alves, E; Neves, AJ; Correia, MR; Costa, FM; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physical Chemistry C, VOLUME: 120, NÚMERO: 12
209
TÃTULO: Composition, structure and morphology of Al1-xInxN thin films grown on Al1-yGayN templates with different GaN contents Full Text
AUTORES: Magalhaes, S; Watson, IM; Pereira, S; Franco, N; Tan, LT; Martin, RW; O'Donnell, KP; Alves, E; Araujo, JP ; Monteiro, T; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 48, NÚMERO: 1
AUTORES: Magalhaes, S; Watson, IM; Pereira, S; Franco, N; Tan, LT; Martin, RW; O'Donnell, KP; Alves, E; Araujo, JP ; Monteiro, T; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 48, NÚMERO: 1
210
TÃTULO: Electrochemical and structural characterization of nanocomposite Ag-y:TiNx thin films for dry bioelectrodes: the effect of the N/Ti ratio and Ag content Full Text
AUTORES: Pedrosa, P; Machado, D; Fiedler, P; Alves, E; Barradas, NP; Haueisen, J; Vaz, F; Fonseca, C ;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: ELECTROCHIMICA ACTA, VOLUME: 153
AUTORES: Pedrosa, P; Machado, D; Fiedler, P; Alves, E; Barradas, NP; Haueisen, J; Vaz, F; Fonseca, C ;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: ELECTROCHIMICA ACTA, VOLUME: 153
