V. Champac
AuthID: R-00F-9FW
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TÃTULO: Delay sensing for long-term variations and defects monitoring in safety-critical applications Full Text
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 70, NÚMERO: 2
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 70, NÚMERO: 2
2
TÃTULO: Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES: Martins, CV; Jorge Semião ; Vazquez, JC; Champac, V; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV) in 2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
AUTORES: Martins, CV; Jorge Semião ; Vazquez, JC; Champac, V; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV) in 2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
