João Paulo Cacho Teixeira
AuthID: R-000-7A4
121
TÃTULO: OCCUPATIONAL EXPOSURE TO FORMALDEHYDE: GENOTOXIC RISK EVALUATION BY COMET ASSAY AND MICRONUCLEUS TEST USING HUMAN PERIPHERAL LYMPHOCYTES Full Text
AUTORES: Solange Costa; Carolina Pina; Patricia Coelho; Carla Costa ; Susana Silva; Beatriz Porto ; Blanca Laffon; Joao Paulo Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: JOURNAL OF TOXICOLOGY AND ENVIRONMENTAL HEALTH-PART A-CURRENT ISSUES, VOLUME: 74, NÚMERO: 15-16
AUTORES: Solange Costa; Carolina Pina; Patricia Coelho; Carla Costa ; Susana Silva; Beatriz Porto ; Blanca Laffon; Joao Paulo Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: JOURNAL OF TOXICOLOGY AND ENVIRONMENTAL HEALTH-PART A-CURRENT ISSUES, VOLUME: 74, NÚMERO: 15-16
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TÃTULO: Infrared sounding of the trade-wind boundary layer: AIRS and the RICO experiment. AIRS TRADE-WIND BOUNDARY LAYER Full Text
AUTORES: Joao P A Martins ; Joao Teixeira; Pedro M M Soares ; Pedro M A Miranda ; Brian H Kahn; Van T Dang; Frederick W Irion; Eric J Fetzer; Evan Fishbein;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: GEOPHYSICAL RESEARCH LETTERS, VOLUME: 37, NÚMERO: 24
AUTORES: Joao P A Martins ; Joao Teixeira; Pedro M M Soares ; Pedro M A Miranda ; Brian H Kahn; Van T Dang; Frederick W Irion; Eric J Fetzer; Evan Fishbein;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: GEOPHYSICAL RESEARCH LETTERS, VOLUME: 37, NÚMERO: 24
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TÃTULO: Evaluating Interim 18F-FDG-PET/CT in Patients Undergoing First Line Therapy for Lymphoma Using a Comparative Scoring System Full Text
AUTORES: Teixeira, JP; Lucena, I; Duarte, H; Costa, L; Lopes, F; Soares, O; Bastos, AL;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 23rd Annual Congress of the European-Association-of-Nuclear-Medicine (EANM) in EUROPEAN JOURNAL OF NUCLEAR MEDICINE AND MOLECULAR IMAGING, VOLUME: 37
AUTORES: Teixeira, JP; Lucena, I; Duarte, H; Costa, L; Lopes, F; Soares, O; Bastos, AL;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 23rd Annual Congress of the European-Association-of-Nuclear-Medicine (EANM) in EUROPEAN JOURNAL OF NUCLEAR MEDICINE AND MOLECULAR IMAGING, VOLUME: 37
INDEXADO EM: 
WOS
WOS124
TÃTULO: Subtropical Cloud-Regime Transitions: Boundary Layer Depth and Cloud-Top Height Evolution in Models and Observations Full Text
AUTORES: Johannes Karlsson; Gunilla Svensson; Sambingo Cardoso; Joao Teixeira; Susan Paradise;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: JOURNAL OF APPLIED METEOROLOGY AND CLIMATOLOGY, VOLUME: 49, NÚMERO: 9
AUTORES: Johannes Karlsson; Gunilla Svensson; Sambingo Cardoso; Joao Teixeira; Susan Paradise;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: JOURNAL OF APPLIED METEOROLOGY AND CLIMATOLOGY, VOLUME: 49, NÚMERO: 9
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TÃTULO: Formaldehyde occupational exposure: Genotoxic evaluation Full Text
AUTORES: Costa, S; Silva, S; Costa, C ; Coelho, P; Pina, C; Gaspar, J; Tavares, A; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: TOXICOLOGY LETTERS, VOLUME: 196
AUTORES: Costa, S; Silva, S; Costa, C ; Coelho, P; Pina, C; Gaspar, J; Tavares, A; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: TOXICOLOGY LETTERS, VOLUME: 196
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TÃTULO: Observed development of the vertical structure of the marine boundary layer during the LASIE experiment in the Ligurian Sea Full Text
AUTORES: Sempreviva, AM; Schiano, ME; Pensieri, S; Semedo, A; Tome, R; Bozzano, R; Borghini, M; Grasso, F; Soerensen, LL; Teixeira, J; Transerici, C;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: ANNALES GEOPHYSICAE, VOLUME: 28, NÚMERO: 1
AUTORES: Sempreviva, AM; Schiano, ME; Pensieri, S; Semedo, A; Tome, R; Bozzano, R; Borghini, M; Grasso, F; Soerensen, LL; Teixeira, J; Transerici, C;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: ANNALES GEOPHYSICAE, VOLUME: 28, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Investigating the use of BICS to detect resistive- open defects in SRAMs
AUTORES: Chipana, R; Bolzani, L; Vargas, F; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, J; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
AUTORES: Chipana, R; Bolzani, L; Vargas, F; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, J; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
INDEXADO EM: 
Scopus 
CrossRef
Scopus CrossRef128
TÃTULO: On restoring data coherence in a GALS system for medical imaging
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousã, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010 in Proceedings - 2010 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousã, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010 in Proceedings - 2010 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
Scopus CrossRef129
TÃTULO: On Restoring Data Coherence in a GALS System for Medical Imaging
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousa, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousa, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
INDEXADO EM: WOS
WOS130
TÃTULO: Delay Sensing for Parametric Variations and Defects Monitoring in Safety-Critical Applications
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
INDEXADO EM: WOS
WOS