Instituto Superior de Engenharia de Coimbra (ISEC)
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 3813
132 Team MembersFilters -> Year: 2025
AUTORES: Milton P Macedo ; Antonio J Barata; Ana G Fernandes; Carlos M Correia;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Three-Dimensional and Multidimensional Microscopy: Image Acquisition and Processing XII
AUTORES: Milton P Macedo ; Ana G Fernandes; Carlos M Correia;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Nano- and Micro-Metrology
AUTORES: Martins, N ; Araujo, H;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2nd Iberian Conference on Pattern Recongnition and Image Analysis in PATTERN RECOGNITION AND IMAGE ANALYSIS, PT 1, PROCEEDINGS, VOLUME: 3522, NÚMERO: I, PÁGINAS: 168-175
AUTORES: Duraes, J; Madeira, H ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2nd Latin-American Symposium on Dependable Computing in DEPENDABLE COMPUTING, PROCEEDINGS, VOLUME: 3747, PÁGINAS: 20-34
AUTORES: Escada, J; P.J.B.M Rachinhas; T.H.V.T Dias; J.A.M Lopes ; F.P Santos; C.A.N Conde; A.D. Stauffer;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004.
AUTORES: Milton P Macedo ; Barata, AJ; Fernandes, AG; Correia, CM ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Conference on 3-Dimensional and Multidimensional Microscopy - Image Acquisition and Processing XII in Three-Dimensional and Multidimensional Microscopy: Image Acquisition and Processing XII, VOLUME: 5701, PÁGINAS: 172-181
AUTORES: Amaral, AL ; Ferreira, EC ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 9th International Conference on Chemometrics in Analytical Chemistry in ANALYTICA CHIMICA ACTA, VOLUME: 544, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 246-253
AUTORES: Rodionov, I; Bidault, JM; Crotty, I; Fonte, P ; Galy, F; Peskov, V; Zanette, O;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Nuclear Science Symposium Conference Record, 2005 IEEE in 2005 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM CONFERENCE RECORD, VOLS 1-5, VOLUME: 5, PÁGINAS: 3045-3049
AUTORES: Buffet, JC; Clergeau, JF; Cooper, RG; Darpentigny, J; De Laulany, A; Fermon, C; Fetal, S ; Fraga, F ; Guerard, B; Kampmann, R; Kastenmueller, A; Mc Intyre, GJ; Manzin, G; Meilleur, F; Millier, F; Rhodes, N; Rosta, L; Schooneveld, E; Smith, GC; Takahashi, H; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, VOLUME: 554, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 392-405
AUTORES: Antunes, E; Ferreira Marques, R; Blanco, A; Carolino, N; Lopes, L; Pereira, A; Silva, J; Capela, C; Neves, C; Sousa, C; Vieira, M; Fonte, P ; Garzón, JA; González Díaz, D; Lange, JS; Koenig, W; Stroebele, H;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2005 International Europhysics Conference on High Energy Physics, HEP 2005 in Proceedings of Science, VOLUME: 21
AUTORES: Amaral, AMR ; Cardoso, AJM ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Sixth International Conference on Power Electronics and Drive Systems, PEDS 2005 in Proceedings of the International Conference on Power Electronics and Drive Systems, VOLUME: 2, PÁGINAS: 1628-1633
AUTORES: Acacio M R Amaral ; Marques Cardoso, AJM ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT) in 2005 IEEE International Conference on Industrial Technology - (ICIT), Vols 1 and 2, VOLUME: 2005, PÁGINAS: 150-155
AUTORES: João R Cardoso ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: African Vision and Eye Health, VOLUME: 64, NÚMERO: 3
AUTORES: Pereira, AJC ; Alves, JP; Vale, ZA; Moura, AME; Pinto, JAD;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 39th International Universities Power Engineering Conference (UPEC 2004) in UPEC 2004: 39th International Universitities Power Engineering Conference, Vols 1-3, Conference Proceedings, PÁGINAS: 484-488
AUTORES: António M Peres; Elsa Ramalhosa; Ana C Veloso ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Jornadas de Controlo de Qualidade de Produtos Regionais
AUTORES: Teixeira, CJC ; Pinto, JAD;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 39th International Universities Power Engineering Conference (UPEC 2004) in UPEC 2004: 39th International Universitities Power Engineering Conference, Vols 1-3, Conference Proceedings, VOLUME: 1, PÁGINAS: 238-241
AUTORES: Gaspar, MC; Mateus, A; Pereira, C ; Antunes, FV ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2005 World Tribology Congress III in Proceedings of the World Tribology Congress III - 2005, PÁGINAS: 703-704
AUTORES: Pereirinha, PG ; Antunes, CFRL;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 11th International Symposium on Electromagnetics Fields in Electrical Engineering in Computer Engineering in Applied Electromagnetism, PÁGINAS: 197-202
AUTORES: Abreu, MC ; Almeida, P ; Balau, F; Ferreira, NC; Fetal, S ; Fraga, F ; Martins, M; Matela, N ; Moura, R; Ortigao, C ; Peralta, L ; Rato, P; Ribeiro, R; Rodrigues, P; Santos, AI; Trindade, A; Varela, J ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 116, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 208-210
AUTORES: Ferreira, J ; Crisostomo, M ; Coimbra, A;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: WSEAS Transactions on Circuits and Systems, VOLUME: 4, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 65-70