Manuel Armando Oliveira Pereira dos Santos


AuthID: R-000-A1H

Publicações Confirmadas: 33



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TÍTULO: Characterization of RuO2 films prepared by rf reactive magnetron sputtering  Full Text
AUTORES: Meng, LJ ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 147, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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22
TÍTULO: Characterization of RuO2 films prepared by RF reactive magnetron sputtering
AUTORES: Meng, LJ ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Symposium on Ferroelectric Thin Films VII in FERROELECTRIC THIN FILMS VII, VOLUME: 541
INDEXADO EM: Scopus WOS
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23
TÍTULO: Deposition of PZT thin film and determination of their optical properties  Full Text
AUTORES: Czekaj, D; Gomes, MJM ; Vasilevskiy, M ; Pereira, M ; Dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: ELECTROCERAMICS VI 98 in JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 19, NÚMERO: 6-7
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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24
TÍTULO: Structural, chemical and optical characterisation of Ge-doped SiO2 glass films grown by magnetron rf-sputtering  Full Text
AUTORES: Rolo, AG ; Conde, O ; Gomes, MJM ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Proceedings of the 1997 Advances in Materials and Processing Technologies, AMPT'97 in JOURNAL OF MATERIALS PROCESSING TECHNOLOGY, VOLUME: 93
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25
TÍTULO: Effect of substrate temperature on the properties of RuO2 films prepared by RF reactive magnetron sputtering
AUTORES: Meng, LJ ; Fortunato, E ; Nunos, R; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 9th International Meeting on Ferroelectricity (IMF-9) in JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY, VOLUME: 32, NÚMERO: 4 SUPPL.
INDEXADO EM: Scopus WOS
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26
TÍTULO: Growth and characterisation of cadmium sulphide nanocrystals embedded in silicon dioxide films  Full Text
AUTORES: Rolo, AG ; Vieira, LG ; Gomes, MJM ; Ribeiro, JL; Belsley, MS ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 312, NÚMERO: 1-2
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27
TÍTULO: Properties of indium tin oxide films prepared by rf reactive magnetron sputtering at different substrate temperature  Full Text
AUTORES: Meng, LJ ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 322, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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28
TÍTULO: Stress analysis of titanium dioxide films by Raman scattering and X-ray diffraction methods
AUTORES: Meng, LJ; dosSantos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Thin Films - Stresses and Mechanical Properties VI, at the 1996 MRS Spring Meeting in THIN FILMS: STRESSES AND MECHANICAL PROPERTIES VI, VOLUME: 436
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 2
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29
TÍTULO: Study of the effect of the oxygen partial pressure on the properties of rf reactive magnetron sputtered tin-doped indium oxide films  Full Text
AUTORES: Meng, LJ ; dos Santos, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 120, NÚMERO: 3-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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30
TÍTULO: INTERFEROMETRIC DETECTION OF CROSS-PHASE MODULATION IN CDS  Full Text
AUTORES: HIRLIMANN, C; WASSMUTH, E; KLING, E; PETIT, S; DOSSANTOS, MP ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 65, NÚMERO: 8
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