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Marcelino Bicho dos Santos
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R-000-A9P
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Proceedings Paper (48)
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1993
1992
1991
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Ano Asc
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IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 82
61
TÃTULO:
A probabilistic method for the computation of testability of RTL constructs
AUTORES:
Fernandes, JM;
Santos, MB
;
Oliveira, AL
;
Teixeira, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 04)
in
DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE CONFERENCE AND EXHIBITION, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS,
VOLUME:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
DBLP
CrossRef
:
7
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
62
TÃTULO:
Built-in self-test quality assessment using hardware fault emulation in FPGAs
AUTORES:
Parreira, A;
Teixeira, JP
;
Santos, MB
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
in
COMPUTING AND INFORMATICS,
VOLUME:
23,
NÚMERO:
5-6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
63
TÃTULO:
FPGAs BIST evaluation
AUTORES:
Parreira, A;
Teixeira, JP
;
Santos, MB
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
14th International Conference on Field-Programmable Logic and Applications
in
FIELD-PROGRAMMABLE LOGIC AND APPLICATIONS, PROCEEDINGS,
VOLUME:
3203
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
64
TÃTULO:
Modeling and simulation of time domain faults in digital systems
AUTORES:
Junior, DB; Vargas, F;
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
Proceedings - 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2004
in
Proceedings - 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2004
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
65
TÃTULO:
On high-quality, low energy built-in self test preparation at RT-level
Full Text
AUTORES:
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
; Manich, S; Balado, L; Figueras, J;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
3rd IEEE Latin-American Test Workshop
in
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
20,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
66
TÃTULO:
Overview of the ECAL off-detector electronics of the CMS experiment
AUTORES:
Alemany, R;
Almeida, CB
; Almeida, N; Bercher, M; Benetta, R; Bexiga, V; Bourotte, J; Busson, P; Cardoso, N; Cerrutti, M; Dejardin, M; Faure, JL; Gachelin, O; Gastal, M; Geerebaert, Y; Gilly, J; Gras, P; Hansen, M; Husejko, M; Jain, A;
Karar, A;
Kloukinas, K;
Ljuslin, C;
Machado, R;
Manjavidze, I;
Mur, M;
Paganini, P;
Regnault, N;
Santos, M
;
Silva, JCD;
Teixeira, I
;
Teixeira, JP
;
Varela, J
;
Verrecchia, P;
Zlatevski, L;
...Mais
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
Nuclear Science Symposium/Medical Imaging Conference
in
2004 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, Vols 1-7,
VOLUME:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
67
TÃTULO:
Effectiveness of low-cost thermal vacuum test of micro-satellites
AUTORES:
Almeida, JS;
Santos, MB
; Panissi, D; Garcia, EC;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
54th International Astronautical Congress of the International Astronautical Federation (IAF), the International Academy of Astronautics and the International Institute of Space Law
in
54th International Astronautical Congress of the International Astronautical Federation (IAF), the International Academy of Astronautics and the International Institute of Space Law,
VOLUME:
1
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
68
TÃTULO:
Design and test of a certifiable ASIC for a safety-critical gas burner control system
Full Text
AUTORES:
Goncalves, FM
;
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
7th IEEE International On-Line Testing Workshop
in
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
18,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
69
TÃTULO:
RTL design validation, DFT and test pattern generation for high defects coverage
Full Text
AUTORES:
Santos, MB
;
Goncalves, FM
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
IEEE European Test Workshop (ETW 01)
in
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
18,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
70
TÃTULO:
RTL level preparation of high-quality/low-energy/low-power BIST
AUTORES:
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
; Manich, S; Rodriguez, R; Figueras, J;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
International Test Conference
in
INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2002, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
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WOS
NO MEU:
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