Nuno Pessoa Barradas


AuthID: R-000-DV0

Publicações Confirmadas: 263



11
TÍTULO: On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical properties  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Sekhar, KC ; Rodrigues, SAS; Pereira, M; Parisini, A; Alves, E ; Barradas, NP ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS) / Symposium N / Symposium O / Symposium V on Laser Materials Processing for Micro and Nano Applications in APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 278
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
12
TÍTULO: On the growth kinetics of Ni(Pt) silicide thin films  Full Text
AUTORES: Demeulemeester, J; Smeets, D; Comrie, CM; Barradas, NP ; Vieira, A; Van Bockstael, C; Detavernier, C; Temst, K; Vantomme, A;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 113, NÚMERO: 16
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
13
TÍTULO: Properties of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputtering: The influence of processing parameters  Full Text
AUTORES: Cristea, D; Constantin, D; Crisan, A; Abreu, CS; Gomes, JR ; Barradas, NP ; Alves, E ; Moura, C; Vaz, F ; Cunha, L ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: VACUUM, VOLUME: 98
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
14
TÍTULO: Status of the MARE Experiment  Full Text
AUTORES: Ribeiro Gomes, MR; Gatti, F; Nucciotti, A; Manfrinetti, P; Galeazzi, M; Alves, E ; Bagliani, D; Barradas, N ; Basak, S; Biasotti, M; Ferri, E; Kling, A ; Pizzigoni, G; Prasai, K; Rocha, J;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, VOLUME: 23, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
15
16
TÍTULO: Accurate Determination of Quantity of Material in Thin Films by Rutherford Backscattering Spectrometry  Full Text
AUTORES: Jeynes, C; Barradas, NP ; Szilagyi, E;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: ANALYTICAL CHEMISTRY, VOLUME: 84, NÚMERO: 14
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
17
TÍTULO: Analysis of multifunctional titanium oxycarbide films as a function of oxygen addition  Full Text
AUTORES: Chappe, JM; Fernandes, AC; Moura, C ; Alves, E ; Barradas, NP ; Martin, N; Espinos, JP; Vaz, F ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 206, NÚMERO: 8-9
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
18
TÍTULO: Characterization of nanostructured HfO2 films using RBS and PAC  Full Text
AUTORES: Cavalcante, FHM; Gomes, MR; Carbonari, AW; Pereira, LFD; Rossetto, DA; Costa, MS; Alves, E ; Barradas, NP ; Franco, N; Redondo, LM ; Lopes, AML ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 20th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 273
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID | ResearcherID
19
TÍTULO: Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputtering  Full Text
AUTORES: Borges, J; Martin, N; Barradas, NP ; Alves, E ; Eyidi, D; Beaufort, MF; Riviere, JP; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 520, NÚMERO: 21
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
20
TÍTULO: High precision determination of the InN content of Al1-xInxN thin films by Rutherford backscattering spectrometry  Full Text
AUTORES: Magalhaes, S; Barradas, NP ; Alves, E ; Watson, IM; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 273
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
Página 2 de 27. Total de resultados: 263.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service