Peter Stallinga


AuthID: R-000-F4C

Publicações Confirmadas: 40



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TÍTULO: Modeling electrical characteristics of thin-film field-effect transistors II: Effects of traps and impurities  Full Text
AUTORES: Stallinga, P ; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: SYNTHETIC METALS, VOLUME: 156, NÚMERO: 21-24
INDEXADO EM: Scopus WOS
22
TÍTULO: Organic materials for active layers in transistors: Study of the electrical stability properties
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; de Leeuw, DM;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 3rd International Materials Symposium/12th Meeting of the Sociedad-Portuguesa-da-Materials (Materials 2005/SPM) in ADVANCED MATERIALS FORUM III, PTS 1 AND 2, VOLUME: 514-516, NÚMERO: PART 1
INDEXADO EM: Scopus WOS
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23
TÍTULO: The effect of water related traps on the reliability of organic based transistors  Full Text
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; Colle, M; Biscarini, F; de Leeuw, DM;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 352, NÚMERO: 9-20
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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24
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TÍTULO: Electrical characterization of organic based transistors: stability issues  Full Text
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; Dinelli, F; Murgia, M; Biscarini, F; de Leeuw, DM; Muccini, M; Mullen, K;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 7th International Symposium on Polymers for Advanced Technologies in POLYMERS FOR ADVANCED TECHNOLOGIES, VOLUME: 16, NÚMERO: 2-3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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26
TÍTULO: Meta-stability effects in organic based transistors
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; Murgia, M; Biscarini, F; Muck, T; Wagner, V; Smits, E; De Leeuw, DM;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Organic Field-Effect Transistors IV in Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, VOLUME: 5940
INDEXADO EM: Scopus
27
TÍTULO: Trap states as an explanation for the Meyer-Neldel rule in semiconductors  Full Text
AUTORES: Stallinga, P ; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: ORGANIC ELECTRONICS, VOLUME: 6, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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28
TÍTULO: A microelectrode impedance method to measure interaction of cells
AUTORES: Gomes, HL ; Leite, RB ; Afonso, R; Stallinga, P ; Cancela, ML ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: IEEE Sensors 2004 Conference in PROCEEDINGS OF THE IEEE SENSORS 2004, VOLS 1-3, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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29
TÍTULO: Bias-induced threshold voltages shifts in thin-film organic transistors  Full Text
AUTORES: Gomes, HL ; Stallinga, P ; Dinelli, F; Murgia, M; Biscarini, F; de Leeuw, DM; Muck, T; Geurts, J; Molenkamp, LW; Wagner, V;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 84, NÚMERO: 16
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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30
TÍTULO: Detection of explosive vapors using organic thin-film transistors
AUTORES: Bentes, E; Gomes, HL ; Stallinga, P ; Moura, L;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: IEEE Sensors 2004 Conference in PROCEEDINGS OF THE IEEE SENSORS 2004, VOLS 1-3, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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