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Reinhard Horst Schwarz
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R-000-F9H
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Article (74)
Proceedings Paper (38)
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1989
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1987
1986
1985
1984
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 112
11
TÃTULO:
Morphological and optical properties of silicon thin films by PLD
Full Text
AUTORES:
Ayouchi, R
;
Schwarz, R
;
Melo, LV
; Ramalho, R;
Alves, E
;
Marques, CP
;
Santos, L
;
Almeida, R
;
Conde, O
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
255,
NÚMERO:
10
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
12
TÃTULO:
Photosensitivity of nanocrystalline ZnO films grown by PLD
Full Text
AUTORES:
Ayouchi, R
; Bentes, L; Casteleiro, C;
Conde, O
;
Marques, CP
;
Alves, E
;
Moutinho, AMC
;
Marques, HP
;
Teodoro, O
;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
255,
NÚMERO:
11
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
9
NO MEU:
ORCID
13
TÃTULO:
Photocapacitance measurements in irradiated a-Si : H based detectors
Full Text
AUTORES:
Schwarz, R
; Mardolcar, U;
Vygranenko, Y
;
Vieira, M
; Casteleiro, C;
Stallinga, P
;
Gomes, H
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
22nd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
VOLUME:
354,
NÚMERO:
19-25
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
14
TÃTULO:
Self-biasing effect in colour sensitive photodiodes based on double p-i-n a-SiC : H heterojunctions
Full Text
AUTORES:
Vieira, M
;
Fantoni, A
;
Louro, P
;
Fernandes, M
;
Schwarz, R
;
Lavareda, G
;
Carvalho, CN
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
5th Iberian Vacuum Meeting
in
VACUUM,
VOLUME:
82,
NÚMERO:
12
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
15
TÃTULO:
Spatially-resolved photocapacitance measurements to study defects in a-Si : H based p-i-n particle detectors
Full Text
AUTORES:
Casteleiro, C;
Schwarz, R
;
Mardolcar, U
;
Macarico, A
;
Martins, J
;
Vieira, M
; Wuensch, F; Kunst, M;
Morgado, E
;
Stallinga, P
;
Gomes, HL
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
516,
NÚMERO:
15
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
16
TÃTULO:
Study of trap states in zinc oxide (ZnO) thin films for electronic applications
Full Text
AUTORES:
Casteleiro, C;
Gomes, HL
;
Stallinga, P
; Bentes, L;
Ayouchi, R
;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
22nd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
VOLUME:
354,
NÚMERO:
19-25
INDEXADO EM:
WOS
17
TÃTULO:
Study of trap states in zinc oxide (ZnO) thin films for electronic applications
Full Text
AUTORES:
Casteleiro, C;
Gomes, HL
;
Stallinga, P
; Bentes, L;
Ayouchi, R
;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
Journal of Non-Crystalline Solids,
VOLUME:
354,
NÚMERO:
19-25
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
18
TÃTULO:
Correlation between transient decays in wide gap semiconductors: Photoluminescence vs. photocurrent
Full Text
AUTORES:
Niehus, M
;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
Symposium on ZnO and Related Materials held at the 2006 EMRS Spring Meeting
in
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES,
VOLUME:
42,
NÚMERO:
1-6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
19
TÃTULO:
Morphology and composition of GaN films grown by cyclic-pulsed laser deposition
Full Text
AUTORES:
Sangulno, P;
Schwarz, R
; Wilhelm, M; Kunst, M;
Teodoro, O
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
6th Iberian Vacuum Meeting/4th European Topical Conference on Hard Coating
in
VACUUM,
VOLUME:
81,
NÚMERO:
11-12
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
20
TÃTULO:
Photoinduced excess carrier dynamics in PLD-grown ZnO
Full Text
AUTORES:
Queiroz, P
;
Ayouchi, R
;
Niehus, M
; Morgado, E;
Fedorov, A
;
Martinho, J
; Wuensch, F; Kunst, M;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
Symposium on ZnO and Related Materials held at the 2006 EMRS Spring Meeting
in
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES,
VOLUME:
42,
NÚMERO:
1-6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
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