Isabel Maria Silva Nobre Parreira Cacho Teixeira


AuthID: R-000-6DS

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TÍTULO: Built-in Clock Domain Crossing (CDC) test and diagnosis in GALS systems
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP ; Teixeira, IC ; Silva, JC; Lousa, P; Varela, J ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2010 in Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2010
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TÍTULO: Delay modeling for power noise-aware design in Spartan-3A FPGAS
AUTORES: Freijedo, JF; Valdes, MD; Moure, MJ; Costas, L; Rodriguez Andina, JJ; Jorge Semião ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 6th Southern Programmable Logic Conference, SPL 2010 in 6th Southern Programmable Logic Conference, SPL 2010 - Proceedings
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TÍTULO: Impact of power supply voltage variations on FPGA-based digital systems performance
AUTORES: Freijedo, J; Costas, L; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Moure, MJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 6, NÚMERO: 2
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TÍTULO: Investigating the use of BICS to detect resistive- open defects in SRAMs
AUTORES: Chipana, R; Bolzani, L; Vargas, F; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, J; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
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TÍTULO: Low-sensitivity to process variations aging sensor for automotive safety-critical applications
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 28th IEEE VLSI Test Symposium, VTS10 in Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium
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TÍTULO: Predictive error detection by on-line aging monitoring
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
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TÍTULO: Programmable aging sensor for automotive safety-critical applications
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2010 in Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE
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TÍTULO: Built-In Aging Monitoring for Safety-Critical Applications  Full Text
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium in 2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
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TÍTULO: Characterization of the Clear-PEM Breast Imaging Scanner Performance
AUTORES: Albuquerque, E; Almeida, FG ; Almeida, P ; Auffray, E; Barbosa, J; Bastos, AL; Bexiga, V; Bugalho, R; Cardoso, C; Carmona, S; Carneiro, JF ; Carrico, B; Ferreira, CS; Ferreira, NC; Ferreira, M; Frade, M; Goncalves, F ; Guerreiro, C; Lecoq, P; Leong, C; Lousa, P; Machado, P; Martins, MV; Matela, N ; Moura, R; Neves, J; Neves, P; Oliveira, N; Ortigao, C ; Piedade, F; Pinheiro, JF; Relvas, P; Rivetti, A; Rodrigues, P; Rolo, I; Santos, AI; Santos, J; Silva, MM ; Tavernier, S; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ; Silva, JC; Silva, R; Trindade, A; Varela, J ; Bento, P; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: IEEE Nuclear Science Symposium Conference 2009 in 2009 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM CONFERENCE RECORD, VOLS 1-5
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TÍTULO: DATA ACQUISITION ELECTRONICS FOR PET MAMMOGRAPHY IMAGING
AUTORES: Carlos Leong; Pedro Machado; Vasco Bexiga; Paulo P Teixeira ; Isabel C Teixeira ; Joel Rego; Pedro Neves; Fernando Piedade; Pedro Lousa; Pedro Rodrigues; Andreia Trindade; Bugalho, R; Pinheiro, JF; Ferreira, M; Joao Varela ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 2nd International Conference on Biomedical Electronics and Devices in BIODEVICES 2009: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON BIOMEDICAL ELECTRONICS AND DEVICES
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