Fernando Manuel Duarte Gonçalves
AuthID: R-000-51G
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TÃTULO: Oat spelts xylan molecular mass estimation by size exclusion chromatography Full Text
AUTORES: Sarbu, A; Goncalves, F; de Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: CARBOHYDRATE POLYMERS, VOLUME: 53, NÚMERO: 3
AUTORES: Sarbu, A; Goncalves, F; de Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: CARBOHYDRATE POLYMERS, VOLUME: 53, NÚMERO: 3
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TÃTULO: Radical initiated oxidative degradation of oat-spelts xylan Full Text
AUTORES: Sarbu, A; Goncalves, F; de Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: CARBOHYDRATE POLYMERS, VOLUME: 53, NÚMERO: 1
AUTORES: Sarbu, A; Goncalves, F; de Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: CARBOHYDRATE POLYMERS, VOLUME: 53, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Property coverage for quality assessment of fault tolerant or fail safe systems
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 9th IEEE International On-Line Testing Symposium in 9TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 9th IEEE International On-Line Testing Symposium in 9TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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TÃTULO: Property coverage for quality assessment of fault tolerant or failsafe systems
AUTORES: Gonçalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003 in Proceedings - 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003
AUTORES: Gonçalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003 in Proceedings - 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003
INDEXADO EM: 
Scopus
Scopus NO MEU: 
ORCID
ORCID25
TÃTULO: Characterization of white wine mannoproteins Full Text
AUTORES: Goncalves, F; Heyraud, A; De Pinho, MN ; Rinaudo, M;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF AGRICULTURAL AND FOOD CHEMISTRY, VOLUME: 50, NÚMERO: 21
AUTORES: Goncalves, F; Heyraud, A; De Pinho, MN ; Rinaudo, M;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: JOURNAL OF AGRICULTURAL AND FOOD CHEMISTRY, VOLUME: 50, NÚMERO: 21
INDEXADO EM: Scopus 
WOS
Scopus WOS26
TÃTULO: Optimisation of the method for determination of the temperature of saturation in wines Full Text
AUTORES: dos Santos, PC; Goncalves, F; De Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2nd In Vino Analytica Scientia Symposium in ANALYTICA CHIMICA ACTA, VOLUME: 458, NÚMERO: 1
AUTORES: dos Santos, PC; Goncalves, F; De Pinho, MN ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 2nd In Vino Analytica Scientia Symposium in ANALYTICA CHIMICA ACTA, VOLUME: 458, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Self-checking and fault tolerance quality assessment using Fault Sampling
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 17TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS, VOLUME: 2002-January
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 17TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS, VOLUME: 2002-January
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TÃTULO: RTL design validation, DFT and test pattern generation for high defects coverage
AUTORES: Santos, MB; Goncalves, FM; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: IEEE European Test Workshop (ETW 01) in ETW 2001: IEEE EUROPEAN TEST WORKSHOP, PROCEEDINGS
AUTORES: Santos, MB; Goncalves, FM; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: IEEE European Test Workshop (ETW 01) in ETW 2001: IEEE EUROPEAN TEST WORKSHOP, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
WOS29
TÃTULO: Design and test of certifiable ASICs for safety-critical gas burners control
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 7th IEEE International On-Line Testing Workshop in SEVENTH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING WORKSHOP, PROCEEDINGS
AUTORES: Goncalves, FM; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 7th IEEE International On-Line Testing Workshop in SEVENTH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING WORKSHOP, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
WOS30
TÃTULO: RTL-based functional test generation for high defects coverage in digital SOCs
AUTORES: Santos, MB; Goncalves, FM; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE European Test Workshop in IEEE EUROPEAN TEST WORKSHOP, PROCEEDINGS
AUTORES: Santos, MB; Goncalves, FM; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE European Test Workshop in IEEE EUROPEAN TEST WORKSHOP, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
WOS