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Eduardo Jorge da Costa Alves
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1984
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Ano Asc
Cit. WOS Dsc
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 597
21
TÃTULO:
Influence of thermal annealing on structural and optical properties of Au:TiO2 nanocomposite film
AUTORES:
Marin, A; Munteanu, D;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Cunha, L
;
Moura, C
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS,
VOLUME:
15,
NÚMERO:
5-6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
22
TÃTULO:
Lattice site location and luminescence studies of AlxGa1-xN alloys doped with thulium ions
Full Text
AUTORES:
Fialho, M;
Lorenz, K
;
Magalhaes, S
;
Rodrigues, J
;
Santos, NF
;
Monteiro, T
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
18th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials (IBMM)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
307
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
23
TÃTULO:
Local deposition of C-13 tracer in the JET MKII-HD divertor
Full Text
AUTORES:
Likonen, J; Airila, MI; Coad, JP; Hakola, A; Koivuranta, S; Ahonen, E;
Alves, E
;
Barradas, N
; Widdowson, A; Rubel, M; Brezinsek, S; Groth, M;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
20th International Conference on Plasma-Surface Interactions in Controlled Fusion Devices (PSI)
in
JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS,
VOLUME:
438,
NÚMERO:
SUPPL
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
24
TÃTULO:
Measurement and evaluation of the C-13(p,p)C-13 cross section in the energy range 0.8-2.4 MeV
Full Text
AUTORES:
Barradas, NP
;
Catarino, N
;
Alves, E
; Bogdanovic B Radovic; Gurbich, AF;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
316
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
25
TÃTULO:
Microprobe analysis, iono- and photo-luminescence of Mn2+ activated ZnGa2O4 fibres
Full Text
AUTORES:
Santos, NF
;
Fernandes, AJS
;
Alves, LC
;
Sobolev, NA
;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
Costa, FM
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
306
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
6
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
26
TÃTULO:
Microstructure and nanomechanical properties of Fe+ implanted silicon
Full Text
AUTORES:
Nunes, B;
Magalhaes, S
;
Franco, N
;
Alves, E
;
Colaco, R
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
284
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
27
TÃTULO:
Nanocomposite Ag:TiN thin films for dry biopotential electrodes
Full Text
AUTORES:
Pedrosa, P;
Machado, D
;
Lopes, C
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Martin, N;
Macedo, F
;
Fonseca, C
;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
285,
NÚMERO:
PARTA
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
38
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
28
TÃTULO:
Nanostructures and thin films of transparent conductive oxides studied by perturbed angular correlations
Full Text
AUTORES:
Barbosa, MB;
Goncalves, JN
;
Redondo Cubero, A
; Miranda, SMC; Simon, R; Kessler, P; Brandt, M; Henneberger, F; Nogales, E; Mendez, B; Johnston, K;
Alves, E
; Vianden, R;
Araujo, JP
;
Lorenz, K
;
Correia, JG
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS,
VOLUME:
250,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
29
TÃTULO:
On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical properties
Full Text
AUTORES:
Silva, JPB
;
Sekhar, KC
;
Rodrigues, SAS
;
Pereira, M
; Parisini, A;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Gomes, MJM
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS) / Symposium N / Symposium O / Symposium V on Laser Materials Processing for Micro and Nano Applications
in
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
278
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
30
TÃTULO:
On the origin of strain relaxation in epitaxial CdZnO layers
AUTORES:
Redondo Cubero, A
;
Rodrigues, J
; Brandt, M; Schaefer, P; Henneberger, F;
Correia, MR
;
Monteiro, T
;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
Conference on Oxide-Based Materials and Devices IV
in
OXIDE-BASED MATERIALS AND DEVICES IV,
VOLUME:
8626
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
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