Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

Publicações Confirmadas: 65



31
TÍTULO: Aging-Aware Power or Frequency Tuning With Predictive Fault Detection  Full Text
AUTORES: Jackson Pachito; Celestino V Martins; Bruno Jacinto; Isabel C Teixeira ; Joao Paulo Teixeira ; Jorge Semião ; Julio C Vazquez; Victor Champac; Marcelino B Santos ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, VOLUME: 29, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
32
TÍTULO: Modeling the Effect of Process, Power-Supply Voltage and Temperature Variations on the Timing Response of Nanometer Digital Circuits  Full Text
AUTORES: Judit F Freijedo; Jorge Semião ; Juan J Rodriguez Andina; Fabian Vargas; Isabel C Teixeira ; Paulo Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 28, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
33
TÍTULO: The Influence of Clock-Gating On NBTI-Induced Delay Degradation
AUTORES: Pachito, J; Martins, CV; Jorge Semião ; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) in 2012 IEEE 18TH INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM (IOLTS)
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
34
TÍTULO: Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES: Martins, CV; Jorge Semião ; Vazquez, JC; Champac, V; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV) in 2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
35
TÍTULO: IP core to leverage RTOS-based embedded systems reliability to electromagnetic interference
AUTORES: Silva, D; Poehls, LB; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ; Valdes, M; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 8th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, EMC COMPO 2011 in Proceedings of the 8th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits 2011, EMC COMPO 2011
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
36
TÍTULO: Lower V DD operation of FPGA-based digital circuits through delay modeling and time borrowing
AUTORES: Freijedo, J; Valdes, MD; Costas, L; Moure, MJ; Rodriguez Andina, JJ; Jorge Semião ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
37
TÍTULO: Modeling the effect of process variations on the timing response of nanometer digital circuits
AUTORES: Freijedo, J; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 12th IEEE Latin-American Test Workshop, LATW 2011 in LATW 2011 - 12th IEEE Latin-American Test Workshop
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
38
TÍTULO: On-line BIST for performance failure prediction under aging effects in automotive safety-critical applications
AUTORES: Oliveira, RS; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 12th IEEE Latin-American Test Workshop, LATW 2011 in LATW 2011 - 12th IEEE Latin-American Test Workshop
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
39
TÍTULO: On-line BIST for performance failure prediction under NBTI-induced aging in safety-critical applications
AUTORES: Oliveira, RS; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 7, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
40
TÍTULO: Performance failure prediction using built-in delay sensors in FPGAs
AUTORES: Bexiga, V; Leong, C; Jorge Semião ; Ic Teixeira ; Teixeira, JP ; Valdes, M; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 21st International Conference on Field Programmable Logic and Applications, FPL 2011 in Proceedings - 21st International Conference on Field Programmable Logic and Applications, FPL 2011
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
Página 4 de 7. Total de resultados: 65.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service