Marcelino Bicho dos Santos


AuthID: R-000-A9P

Publicações Confirmadas: 82



71
TÍTULO: Implicit functionality and multiple branch coverage (IFMB): a testability metric for RT-Level
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: International Test Conference in INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2001, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
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72
TÍTULO: RTL-based functional test generation for high defects coverage in digital systems  Full Text
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: IEEE European Test Workshop in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 17, NÚMERO: 3-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
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73
TÍTULO: Low power BIST by filtering non-detecting vectors  Full Text
AUTORES: Manich, S; Gabarro, A; Lopez, M; Figueras, J; Girard, P; Guiller, L; Landrault, C; Pravossoudovitch, S; Teixeira, P ; Santos, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 6th IEEE International O-Line Testing Workshop in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 16, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 19
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74
TÍTULO: Defect-Oriented Verilog fault simulation of SoC macros using a stratified fault sampling technique  Full Text
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 17th IEEE Very Large Scale Intergration Test Symposium in 17TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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75
TÍTULO: Low-energy BIST design: impact of the LFSR TPG parameters on the weighted switching activity
AUTORES: Girard, P; Guiller, L; Landrault, C; Pravossoudovitch, S; Figueras, J; Manich, S; Teixeira, P; Santos, M ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Proceedings of the 1999 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS '99 in Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems, VOLUME: 1
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76
TÍTULO: Defect-oriented testing of analogue and mixed signal ICs
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Ohletz, M; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Proceedings of the 1998 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS'98) - Surfing the Waves of Science and Technology in Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 5
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77
TÍTULO: Detect-oriented test quality assessment using fault sampling and simulation  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: International Test Conference 1998 in INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1998, PROCEEDINGS
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78
TÍTULO: Test preparation for high coverage of physical defects in CMOS digital ICs
AUTORES: Santos, MB ; Simoes, M; Teixeira, I ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Proceedings of the 13th IEEE VLSI Test Symposium in Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium
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79
TÍTULO: TEST PREPARATION METHODOLOGY FOR HIGH COVERAGE OF PHYSICAL DEFECTS IN CMOS DIGITAL ICS  Full Text
AUTORES: SANTOS, MB ; SIMOES, M; TEIXEIRA, I ; TEIXEIRA, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: European Design and Test Conference (ED&TC 1995) in EUROPEAN DESIGN AND TEST CONFERENCE - ED&TC 1995, PROCEEDINGS
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80
TÍTULO: On the analysis of routing, cells and adjacency faults in CMOS digital circuits  Full Text
AUTORES: Casimiro, AP; Santos, MB ; Goncalves, F ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Proceedings of the 1994 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
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