Fernando Manuel Duarte Gonçalves


AuthID: R-000-51G

Publicações Confirmadas: 34



21
TÍTULO: Defect-oriented sampling of non-equally probable faults in VLSI systems  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Proceedings of the 1998 16th IEEE VLSI Test Symposium, (VTS 98): Test Innovations for Highly Complex, High Speed, Deep Submicron IC's in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 15, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
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22
TÍTULO: Defect-Oriented Verilog fault simulation of SoC macros using a stratified fault sampling technique  Full Text
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 17th IEEE Very Large Scale Intergration Test Symposium in 17TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
23
TÍTULO: Defect-oriented testing of analogue and mixed signal ICs
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Ohletz, M; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Proceedings of the 1998 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS'98) - Surfing the Waves of Science and Technology in Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 5
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24
TÍTULO: Detect-oriented test quality assessment using fault sampling and simulation  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: International Test Conference 1998 in INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1998, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
25
TÍTULO: Sampling techniques of non-equally probable faults in VLSI systems  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 16th IEEE VLSI Symposium in 16TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
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26
TÍTULO: Realistic fault extraction for high-quality design and test of VLSI systems
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 1997 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
27
TÍTULO: Defect level evaluation in an IC design environment  Full Text
AUTORES: deSousa, JT; Goncalves, FM ; Teixeira, JP; Marzocca, C; Corsi, F; Williams, TW;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLUME: 15, NÚMERO: 10
INDEXADO EM: Scopus WOS
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28
TÍTULO: Integrated approach for circuit and fault extraction of VLSI circuits
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 1996 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
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29
TÍTULO: Fault modeling and defect level projections in digital ICs
AUTORES: Sousa, JT; Goncalves, FM ; Teixeira, JP ; Williams, TW;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Proceedings of the European Design and Test Conference in Proceedings of the European Design and Test Conference
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30
TÍTULO: On the analysis of routing, cells and adjacency faults in CMOS digital circuits  Full Text
AUTORES: Casimiro, AP; Santos, MB ; Goncalves, F ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Proceedings of the 1994 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
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