João Paulo Cacho Teixeira


AuthID: R-000-7A4

Publicações Confirmadas: 110



81
TÍTULO: On identifying and evaluating object architectures for real-time applications  Full Text
AUTORES: Dias, OP; Teixeira, IM ; Teixeira, JP ; Becker, LB; Pereira, CE;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 6th IFAC Workshop on Algorithms and Architectures for Real-Time Control (AARTC 2000) in CONTROL ENGINEERING PRACTICE, VOLUME: 9, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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82
TÍTULO: RTL-based functional test generation for high defects coverage in digital systems  Full Text
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: IEEE European Test Workshop in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 17, NÚMERO: 3-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
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83
TÍTULO: Low power BIST by filtering non-detecting vectors  Full Text
AUTORES: Manich, S; Gabarro, A; Lopez, M; Figueras, J; Girard, P; Guiller, L; Landrault, C; Pravossoudovitch, S; Teixeira, P ; Santos, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 6th IEEE International O-Line Testing Workshop in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 16, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 19
NO MEU: ORCID
84
TÍTULO: Defect-oriented sampling of non-equally probable faults in VLSI systems  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Proceedings of the 1998 16th IEEE VLSI Test Symposium, (VTS 98): Test Innovations for Highly Complex, High Speed, Deep Submicron IC's in JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 15, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
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85
TÍTULO: Defect-Oriented Verilog fault simulation of SoC macros using a stratified fault sampling technique  Full Text
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 17th IEEE Very Large Scale Intergration Test Symposium in 17TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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86
TÍTULO: Defect-oriented testing of analogue and mixed signal ICs
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Ohletz, M; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Proceedings of the 1998 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS'98) - Surfing the Waves of Science and Technology in Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 5
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87
TÍTULO: Detect-oriented test quality assessment using fault sampling and simulation  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: International Test Conference 1998 in INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1998, PROCEEDINGS
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88
TÍTULO: Sampling techniques of non-equally probable faults in VLSI systems  Full Text
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 16th IEEE VLSI Symposium in 16TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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89
TÍTULO: Realistic fault extraction for high-quality design and test of VLSI systems
AUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 1997 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
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90
TÍTULO: Defect-oriented IC test and diagnosis using VHDL fault simulation  Full Text
AUTORES: Celeiro, F; Dias, L; Ferreira, J; Santos, MB; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 International Test Conference (ITC 1996) - Test and Design Validity in INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1996, PROCEEDINGS
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